该客户是中国碳化硅(SiC)功率器件产业化的chang导者之一,于2021年安装了第一台ThetaMetrisis FR-Scanner-AIO-Mic,因机台使用状况良好,客户今年追加购买了第2台和第3台设备(包括可见光和紫外光范围)。
FR-Scanner-AIO-Mic膜厚测量仪采用的是波长范围在370-1020nm的可见光干涉测量,能够测量12nm-90um范围的膜层厚度(5X镜头),准确度高达0.2%或2nm,精度为0.02nm,是一款性价比很高的膜厚测量设备。FR-Scanner的紫外光配置,波长范围低至200nm, 能应用于4nm-60um范围的膜层厚度(5X镜头),准确度高达0.1%或1nm。市场上大多数膜厚测量仪在增加了显微镜配置后,设备的膜厚测量范围出现大幅度缩减,但ThetaMetrisis产品不会出现这种情况,其膜厚测量范围仍然宽广。值得一提的是,实现多点Mapping测量功能是FR-Scanner系列的标配。