大家也许还不是非常的清楚，刻录机的种类有非常的多，其中的技术原理也不尽相同，下面就由我来给大家简单介绍一下有关接触式光刻机的使用原理及性能指标。接触式光刻机的使用原理：其实在我国对于接触式光刻机，曝光时掩模压在光刻胶的衬底晶片上，其主要优点是可以使用价格较低的设备制造出较小的特征尺寸。我们也许不知道接触式光刻和深亚微米光源已经达到了小于0.1gm的特征尺寸，常用的光源分辨率为0.5gm左右。接触式光刻机的掩模版包括了要复制到衬底上的所有芯片阵列图形。在衬底上涂上光刻胶，并被安...

在我们的生活当中，时常也会用到各种各种测量工具对一些数据进行测量，在工业生产领域当中，这种数据的测量和收集分析就更加普遍而且重要了。我们平时可能不怎么会去测量厚度，比如说纸张、薄膜的厚度、或者是物体表面涂层、镀层的厚度。这些厚度数据的测量是十分困难，不采用专业的技术或者是设备是难以进行准确测量的。现在有了一种叫做红外激光测厚仪的设备以后，这些厚度数据的测量就变得简单许多了。下面我们就一起看看它的系统、功能模块和技术亮点都有哪些？红外激光测厚仪软件系统、功能模块和技术亮点：1、...

翘曲度测量仪可以测量：热沉，晶圆，太阳能电池和硅片翘曲度，应力以及表面形貌。适合光伏电池翘曲度测量，太阳能电池翘曲度测量，晶圆翘曲度测量，硅片翘曲度测量，晶片翘曲度测量。翘曲度测量仪的作用：本产品适用于普通测量工具无法测量的领埔，如尺寸微小的钟表、弹簧、橡胶、矿石珠宝、半导体、五金、模具、电子行业、精细加工、不规则工件等到进行测量。还可以绘制简单的图形，绘制测量畸形、复杂和零件重叠等不规则的工件，检查零件的表面糙度和检查复杂的电路板线路。翘曲度测量仪和塞尺测量的对比：1、塞尺...

FSM413红外激光测厚仪是一款广泛应用于晶圆厚度测量的先进仪器。它采用红外干涉（非接触式）的测量方式。这种测量方式使得仪器能够精确测量各种材料的厚度，特别是那些对红外线透明的材料。此外，该仪器还可以测量有图形、有胶带、凸起或者键合在载体上的晶圆的衬底厚度。FSM413红外激光测厚仪产品简介：1、利红外干涉测量技术，非接触式测量。2、适用于所有可让红外线通过的材料硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…FSM413红外激光测厚仪规格：1、测量方式：红外干涉(非...

光学厚度测量仪是一种可以检测薄膜、金属等材料厚度的仪器，而经过厚度是否均匀，从而确定薄膜、金属等材料的各项物理性能指标。因为这些材料如果厚度不一致，那么不仅会导致材料的拉伸强度受到破坏，阻隔性下降，还会为材料的后期加工带来不利的影响。该测量仪只是检测金属、薄膜、板材、橡胶、纸张、塑料的质量和性能的基本方法。它所测量的对象往往是一些对厚度有一定要求的材料，其中，包括了金属箔片，而金属箔片还包括了铝箔、铜箔、锡箔等。现在由于仪器的改进，厚度测试仪已经渐渐成为确保各种材料能够得到进...